ЧУТЛИВИЙ ЕЛЕМЕНТ НОВОГО ТИПУ ДЛЯ ТЕРМОМЕТРУ ОПОРУ

Костянтин Лоскутов; Володимир Ковальчук

doi:10.36074/logos-06.02.2026.034

ЧУТЛИВИЙ ЕЛЕМЕНТ НОВОГО ТИПУ ДЛЯ ТЕРМОМЕТРУ ОПОРУ

Костянтин Лоскутов; Володимир Ковальчук

Conference proceedings: Sammlung wissenschaftlicher Arbeiten «ΛΌГOΣ» zu den Materialien der IX internationalen wissenschaftlich-praktischen Konferenz «Grundlagen der modernen wissenschaftlichen Forschung» (Zürich, Schweizerische Eidgenossenschaft; 6. Februar, 2026)

Section: Physics and Mathematics

Publication date: 2026/02/06

Pages: 189-195

DOI: 10.36074/logos-06.02.2026.034

ISBN: 978-617-8440-87-9

Publisher: BOLESWA Publishers

Language: uk

PDF for indexing Original PDF in OJS archive DOI

Abstract

Температурні, теплотехнічні вимірювання є вкрай важливими для реалізації безперервного виробничого контролю роботи будь-якого устаткування. Це особливо актуально при проведенні робіт з термічного аудиту приладів електронної техніки, які дозволяють провести дистанційний аналіз і моніторинг параметрів навколишнього середовища.

Author affiliations

Костянтин Лоскутов: Південноукраїнський національний педагогічний університет ім. К. Д. Ушинського, УКРАЇНА
Володимир Ковальчук: ПЗВО «Одеський технологічний університет «ШАГ»», УКРАЇНА; ORCID

References

Wu K.С. (2021). Power Electronic System Design. Ed. Elsevier. 405 р. Посилання: eBook ISBN: 9780323885430
Бондар О.І., Тафтай В.В., Фінін Г.С., Шевченко Р.Ю. (2022). Сучасні технології моніторингу довкілля: на прикладі Київської агломерації. ДЕАПОУ Житомир: Рута. 394 c. Посилання: https://repositary.knuba.edu.ua/handle /123456789/11486
Гасій О. Б. (2018). Розвиток технології вакуумного йонно-плазмового напилення та напрями її вдосконалення Науковий вісник НЛТУ України. 28 (10). 85-91. DOI: https://doi.org/10.15421/40281018
Guo J., Yu B., Chen L. (2015) Nondestructive nanofabrication on Si(100) surface by tribochemistryinduced selective etching. Sci. Rep. 5. 16472. DOI: 10.1038/ srep1647
Ковальчук В.В. (2022) Study on Heterophotocell Based on Super-line Photoventil Effect Research Trends and Challenges in Physical Science (7). 26–33. https://doi.org/10.9734/bpi/rtcps/v7/15319D
Kovalchuk V., Popriaha D. (2025). Optical Properties of the Semiconductor Nanoclusters. Technium: Romanian J. Appl. Sciences and Technology. 28. 35–42. https://doi.org/10.47577/technium.v28i.12625
Buckwell M., Wing H.Ng., Hudziak S., Mehonic A., Lanza M., Kenyon A.J. (2019). Improving the consistency of nanoscale etching for atomic force microscopy tomography applications. Front matter: mechanics of materials. 6. 203-205. DOI: https://doi.org/10.3389/fmats.2019.00203.
Іваницький В. П., Рубіш В. М., Тарнай А. А., Чичура І. І., Рубіш В. В., Далекорей А. В., Мешко Р. О., Рябощук М. М., Цигика В. В. (2024). Автоматизація вимірювань швидкості хімічного травлення тонких плівок Реєстрація, зберігання і обробка даних. 26 (2). 81-91. DOI: https://doi.org/10.35681/1560-9189.2024.26.2.316977
Ковальчук В.В., Панченко А.А., Сербов Н.Г. (2015). Вимірювальна система визначення геометричних параметрів нанокластерної підісистеми речовини. Метрологія та прилади. 53(3). 57-62 ISSN 2307-2180 http://www.metpriladi.com/
Kovalchuk V., Popriaha D. (2025). Formation of a nanocluster subsystem of a film heterotransfer Sensor Electronics and Мicrosystem Technologies. 23 (3). 58-64 DOI: https://doi.org/10.18524/1815-7459.2025.3.339805

[1] Wu K.С. (2021). Power Electronic System Design. Ed. Elsevier. 405 р. Посилання: eBook ISBN: 9780323885430

[2] Бондар О.І., Тафтай В.В., Фінін Г.С., Шевченко Р.Ю. (2022). Сучасні технології моніторингу довкілля: на прикладі Київської агломерації. ДЕАПОУ Житомир: Рута. 394 c. Посилання: https://repositary.knuba.edu.ua/handle /123456789/11486

[3] Гасій О. Б. (2018). Розвиток технології вакуумного йонно-плазмового напилення та напрями її вдосконалення Науковий вісник НЛТУ України. 28 (10). 85-91. DOI: https://doi.org/10.15421/40281018

[4] Guo J., Yu B., Chen L. (2015) Nondestructive nanofabrication on Si(100) surface by tribochemistryinduced selective etching. Sci. Rep. 5. 16472. DOI: 10.1038/ srep1647

[5] Ковальчук В.В. (2022) Study on Heterophotocell Based on Super-line Photoventil Effect Research Trends and Challenges in Physical Science (7). 26–33. https://doi.org/10.9734/bpi/rtcps/v7/15319D

[6] Kovalchuk V., Popriaha D. (2025). Optical Properties of the Semiconductor Nanoclusters. Technium: Romanian J. Appl. Sciences and Technology. 28. 35–42. https://doi.org/10.47577/technium.v28i.12625

[7] Buckwell M., Wing H.Ng., Hudziak S., Mehonic A., Lanza M., Kenyon A.J. (2019). Improving the consistency of nanoscale etching for atomic force microscopy tomography applications. Front matter: mechanics of materials. 6. 203-205. DOI: https://doi.org/10.3389/fmats.2019.00203.

[8] Іваницький В. П., Рубіш В. М., Тарнай А. А., Чичура І. І., Рубіш В. В., Далекорей А. В., Мешко Р. О., Рябощук М. М., Цигика В. В. (2024). Автоматизація вимірювань швидкості хімічного травлення тонких плівок Реєстрація, зберігання і обробка даних. 26 (2). 81-91. DOI: https://doi.org/10.35681/1560-9189.2024.26.2.316977

[9] Ковальчук В.В., Панченко А.А., Сербов Н.Г. (2015). Вимірювальна система визначення геометричних параметрів нанокластерної підісистеми речовини. Метрологія та прилади. 53(3). 57-62 ISSN 2307-2180 http://www.metpriladi.com/

[10] Kovalchuk V., Popriaha D. (2025). Formation of a nanocluster subsystem of a film heterotransfer Sensor Electronics and Мicrosystem Technologies. 23 (3). 58-64 DOI: https://doi.org/10.18524/1815-7459.2025.3.339805